Thank you for your message. A representative will get in touch with you shortly.
Hiện nay, nhiều kỹ thuật phân tích nguyên tố được sử dụng để kiểm soát chất lượng và quá trình sản xuất. ICP, AAS, ICP-MS, ICP-OES và quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) là những kỹ thuật truyền thống được sử dụng trong nhiều ngành công nghiệp. Mỗi kỹ thuật này đều có một số lợi thế và hạn chế nhất định, cho phép nhà phân tích lựa chọn công nghệ phù hợp nhất. Khi giới hạn yêu cầu của phân tích định lượng cao hơn 1 ppm (μg/ g), hoặc khi cần phải phân tích không phá hủy mẫu, XRF là một lựa chọn tối ưu nên được cân nhắc sử dụng, đặc biệt khi phân tích chất rắn, bột, chất xơ, bộ lọc và dầu.
Trái ngược với ICP và AAS, quang phổ XRF không đòi hỏi sự hòa tan hoặc nghiền nát mẫu, cho phép phân tích không phá hủy mẫu. Bằng cách tránh những sai sót do sự hòa tan không hoàn toàn và độ pha loãng lớn khi chuẩn bị mẫu, việc phân tích hoàn chỉnh bởi XRF giúp đảm bảo tính chính xác và độ tin cậy của các kết quả.
Dưới đây là năm trong số rất nhiều lợi thế của XRF:
Các phép đo bởi XRF được thực hiện trực tiếp trên vật liệu rắn (hoặc lỏng) mà không cần chuẩn bị mẫu hoặc chuẩn bị rất đơn giản. XRF phân tích bất kỳ loại mẫu nào mà không cần pha loãng hoặc nghiền mẫu và do đó không cần phải xử lý chất thải hóa học. Với các phương pháp hóa ướt, việc chuyển chất lỏng từ vật chứa này sang vật chứa khác có thể dẫn đến tạp nhiễm hoặc thất thoát vật liệu.
XRF đo được khối lượng mẫu tương đối lớn (100 mg đến 10 gram) giúp cho tính đại diện của mẫu cao hơn đồng thời các sai số do tính không đồng nhất mẫu được giảm thiểu dễ dàng. XRF có thể đo lượng gram mà không có nguy cơ nhiễm chéo và do đó các sai số trong kết quả đo nhỏ hơn nhiều.
Trong các máy đo phổ XRF để bàn, mẫu được kích thích bằng cách sử dụng một ống phát xạ tia X và các tia X thứ cấp đặc trưng từ mẫu được ghi nhận bởi đầu dò và tự động xử lý bằng phần mềm. Những ống tia X năng lượng thấp này không tạo ra một lượng photon hoặc nhiệt năng đủ lớn và do đó không làm hỏng mẫu vật hoặc thay đổi cấu trúc tinh thể của nó. Ngay cả với những mẫu có hình dạng không đồng đều khi cho vào máy quang phổ cũng có thể phân tích mà không cần bước phá mẫu.
Những mẫu đã được phân tích bởi XRF sau đó có thể được phân tích bằng các kỹ thuật khác nếu cần.
Khi tính đến chi phí đầu tư thiết bị và cơ sở hạ tầng, chi phí vận hành bằng khí, axit, điện và xử lý chất thải, máy quang phổ XRF tiết kiệm hơn rất nhiều so với ICP và AAS. XRF không yêu cầu sử dụng axit, khí và tủ hút mắc tiền. Yêu cầu duy nhất là nguồn điện, và trong một số trường hợp sử dụng khí heli để tăng độ nhạy cho các phần tử ánh sáng trong mẫu. Ngoài ra, các thành phần trong thiết bị đo phổ XRF không bị ảnh hưởng bởi va chạm hoặc nhiệt độ giúp kéo dài tuổi thọ máy.
Ví dụ, quá trình phân tích dầu chỉ đòi hỏi sử dụng vật chứa chất lỏng dùng một lần rẻ tiền. Các mẫu rắn như kim loại, có thể được đo tương tự mà không cần chuẩn bị mẫu. Điều này góp phần làm cho XRF hiệu quả tài chính hơn hết !
Do việc vận hành máy quang phổ benchtop XRF không đòi hỏi khí, chất lỏng, axit và tủ hút, dụng cụ có thể được đặt trong cơ sở sản xuất, ngay bên cạnh dây chuyền sản xuất để kiểm soát quy trình tại chỗ. Thiết bị này dễ lắp đặt, chỉ với khóa đào tạo ngắn hạn và cơ bản về phần mềm, người sử dụng có thể vận hành thiết bị một cách dễ dàng.
Các tiến bộ mới nhất trong công nghệ kích thích và phát hiện làm cho máy quang phổ benchtop XRF hoạt động ổn định. So với ICP và AAS, XRF không cần khí hoặc chất lỏng để vận hành. Do đó, những thay đổi trong việc hiệu chỉnh do độ tinh khiết và tính ổn định của các khí không phải là vấn đề của XRF, bạn không phải mất thời gian hiệu chuẩn hàng ngày thiết bị XRF.
Đối với các máy đo phổ XRF, độ lệch chuẩn dần dần qua các năm được dễ dàng chỉnh sửa trong phần mềm và không cần phải hiệu chuẩn lại toàn bộ mỗi lần vận hành máy
(Ms.) Le Thi Thuy Trang
📞Tel. (+84) 906 654 815
✉ Email. tecinfo.vn@dksh.com