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- パーティカルメトリクス「NTA装置 ZetaView」
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NTA はブラウン運動するナノ粒子を動画撮影することにより個々の粒子 のサイズ・粒子濃度を解析する手法です。
ZetaView ではレーザーを照射された各粒子の 90°の散乱光を高感度の CMOS カメラで検出します。検出された粒子のブラウン運動がカメラ画像 上の輝点の動きとして観察されトラッキングされます。この動きを追跡す ることにより拡散係数を求め、ストークス・アインシュタイン式により粒 子サイズを決定することができます。また、粒子濃度は容量が既知であるカ メラ視野内のすべての粒子カウントから 1ml 当たりの粒子数が求まります。 Zetaview はレーザーとレンズ・カメラが同期して制御される "ZetaFocus" により最大 11 ヵ所をスキャンして測定することが可能です。 さらにセルに一定の電圧をかけた時の電気泳動度を測定することにより、 粒子のゼータ電位を決定することできます。
| 粒子濃度範囲（粒子/濃度） | 10^5~10^9個/mL |
|---|---|
| 粒子径測定範囲（粒子/濃度） | 10 nm ~1000 nm (散乱光モード) 20nm ~ 1000nm(蛍光モード) *サンプルおよび使用レーザーによる |
| 確度と再現性（粒子/濃度） | 確度: ± 5 nm (100 nm ポリスチレン粒子において） 再現性: ± 2 nm (100 nm ポリスチレン粒子において） |
| 粒子測定範囲（ゼータ電位） | -500 mV ~ +500 mV |
| 粒子濃度範囲（ゼータ電位） | 10^6 ~ 10^10 個/ml |
| 粒子径範囲（ゼータ電位） | 20 nm ~ 5000 nm ( サンプルおよび使用レーザーによる） |
| 電気伝導度（ゼータ電位） | 3 μS/cm ~15 mS/cm |
| 確度と再現性（ゼータ電位） | 確度: ± 4 mV ( アルミナ標準粒子において） 再現性: ± 2 mV ( アルミナ標準粒子において） |
| レーザー光源 | 使用可能レーザー波長 : 405nm, 488nm, 520nm, 660nm（ >30mW) |
| カメラ | 高感度CMOS カメラ 640 × 480 pixels フレームレート変更可能(1~60 fps) |
| 温度制御 | (室温-5℃) ~ 55℃ |
| pH 範囲 | 1 ~ 13 |
| 最小サンプル量 | 500 μl (10^5 個/ml において） |
| サンプル溶液 | 水系溶媒、極性溶媒 |
| 電源環境 | 90 -240 V, 47-63 Hz, 50 VA |
| 寸法(W × D × H) 重量 | 20 × 30 × 25 cm 8.5 kg |
・スキャニング NTA
Zetaview によるナノ粒子トラッキン解析 (NTA) ではサンプルセル中の 11 ヵ所の異なる位置がスキャンされます。これによりシングルポイント の測定に比べてより実際の状態を反映した解析を行うことが可能です。 シリンジポンプも必要としません。
・オートアライメント調整とオートフォーカス
光学デバイスの設定はソフトウェアにより自動的に最適化され、測定準 備に要する時間を節約することができます。
・迅速測定
粒子径分布と濃度決定をわずか 90 秒で測定できます。(11 ポジション /2 サイクル測定において
・直観的な操作が可能なソフトウェア
サンプルが適正な濃度で測定できているかどうかが一目でわかるシステ ムになっており、どの程度の希釈が必要かもすぐにわかります。
・蛍光測定による粒子識別
405/488/520/660nm の波長のレーザーが使用可能。蛍光測定によりサ ンプル中の特定の粒子を検出することができます。
・ゼータ電位測定が可能
Z-NTA セルアセンブリーを使って、粒子の電気絵移動度を測定すること によりゼータ電位を測定することが可能です。
・クリーニングも簡単
サンプル測定間のクリーニングは、短い 1 分以下のフラッシングだけで 済むため、時間を節約することができます。
サプライヤー情報： ドイツ・パーティカルメトリクス社 (Particle Metrix) は 2017 年創立のライフサイエンス分野に特化したナノ粒子トラッキング解析 (NTA) 装置の先駆メーカーです。ISOに準拠した測定方法に基づき、ウイルス様粒子、ワクチンなどのナノ粒子の包括的特性を簡易的に解析する画期的な手法をご提供します。