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エレクトロフィジック　静磁石式　マイクロテスト

テクノロジー事業部門 半導体・エレクトロニクス関連

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  • エレクトロフィジック社 製品総合カタログ - プロテクト
    (PDF, 3 MB)
エレクトロフィジック　静磁石式　マイクロテスト

マイクロテストは永久磁石式アナログタイプの膜厚計です。

【製品の特長】

  • 耐久性と耐溶剤性に優れた亜鉛ダイキャスト製ハウジングを採用しています。
  • エレクトロフィジック社独自の製造技術を用いた測定部の永久磁石は長年にわたり高い精度を保ちます。
  • 最大20㎜まで測定できます（マイクロテストS20-6）
  • 重力補正により、水平・垂直・頭上方向などあらゆる向きで使用できます。
  • ある程度湾曲した面も測定できます。
  • 電池は不要です。

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  • 半導体、太陽光・エレクトロニクス
エレクトロフィジック（Elektrophysik）サプライヤー紹介：　エレクトロフィジック（Elektrophysik）社はドイツのケルンに本社を構える膜厚計のトップメーカーです。1947年にエリッヒ・ステイングローバー博士によって創立されて以来約70年の製造・販売実績があり、世界各国で事業を展開しています。同社は非破壊膜厚測定の分野におけるパイオニアとして、膜厚測定の国際標準化に加えて新製品の開発を成功裏に発展させてきました。すべての製品は品質マネジメントプログラムに関する国際規格ISO9001に基づく徹底した品質管理の下、ドイツ国内で製造されています

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[エレクトロ, エレクトロフィジック, エレクトロ・フィジック, 膜厚計, ミニテスト, MT70, 非破壊　膜厚計, 磁石　膜厚]

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