การวิเคราะห์ Thin Film ด้วยเทคนิค X-ray Diffraction (XRD) March 24, 2022

Back

DKSH Scientific ร่วมกับ Malvern PANalytical ขอเชิญทุกท่านเข้าสู่งานสัมมนาออนไลน์ ในหัวข้อ "การวิเคราะห์ Thin Film ด้วยเทคนิค X-ray Diffraction (XRD)" โดย ดร.ธนิสรารัชต์ สาลีสังข์, Application Specialist Manager

เราได้รวบรวมหลากหลายข้อมูลเกี่ยวกับเทคนิค X-ray diffraction (XRD) ไว้ที่นี่แล้ว! โดยงานสัมมนาในครั้งนี้จะเกี่ยวข้องกับเครื่องมือต่างๆ จาก Malvern PANalytical และเทคนิค X-ray diffraction (XRD) โดยเน้นไปที่รายละเอียดของหลักทฤษฎี และการวัดวิเคราะห์ Thin Film ด้วยเทคนิค XRD

พบกับผู้เชี่ยวชาญของเราได้ในวันที่ 24 มีนาคม 2565 ตั้งแต่เวลา 14.30 น. จนถึงเวลา 15.30 น.

รายละเอียด

14.30 - 14.40      

กล่าวต้อนรับเข้าสู่งานสัมมนาออนไลน์

14.40 - 15.30

• ขอแนะนำเทคนิค XRD จาก Panalytical      
• การวิเคราะห์ Thin Film ด้วยเทคนิค XRD:     
   - หลักทฤษฎี
   - การวิเคราะห์ด้วยเทคนิค XRD
• ถาม-ตอบ

 

สอบถามเพิ่มเติม

Marketing team

💬 Line ID: @dkshscientific

📞 โทร: 095 204 4065

✉️ อีเมล: marketing.tec.th@dksh.com

ลงทะเบียนเข้าร่วมสัมมนาออนไลน์

ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง

Malvern XRD AERIS

Aeris - เครื่องวิเคราะห์โครงสร้างผลึกของสารประกอบด้วยเทคนิค XRD

เครื่อง Aeris โดดเด่นด้วยคุณภาพของผลการวัด และการเก็บข้อมูลที่รวดเร็ว เครื่องรุ่นนี้มาพร้อมระบบสัมผัสและซอฟต์แวร์ที่ใช้งานง่าย

Select a market