ดีเคเอสเอช และ Malvern PANalytical ขอเชิญชวนทุกท่านเข้าชมคลาสแรกของพวกเรา ในหัวข้อ "Understanding of Laser Diffraction Particle Size Analysis" โดยคุณภัทรนิษฐ์ วงษ์ศุภลักษณ์ (ตำแหน่ง Senior Specialist, Applications, Scientific Instrument) เริ่มตั้งแต่วันที่ 22 เมษายนนี้ เวลา 10.00 น. เป็นต้นไป สำหรับคลาสแรกนี้ ทุกท่านจะได้พบกับหัวข้อต่างๆ อาทิเช่น ทฤษฎีเบื้องต้นและหลักการของการกระเจิงแสง (Laser Diffraction) ว่าสามารถวัดขนาดอนุภาคระดับไมครอนได้อย่างไร เพียงแค่ลงทะเบียนและเตรียมตัวสำหรับ Webinar ในครั้งนี้ได้เลย!
จุดเด่นของเทคนิคการวิเคราะห์ XRF ที่แตกต่างจากเทคนิคการวิเคราะห์ AAS และ ICP คือ ไม่จำเป็นต้องมีการเจือจางหรือย่อยตัวอย่าง เทคนิคการวิเคราะห์ XRF เป็นเทคนิคที่ไม่ทำลายตัวอย่าง ทำให้ไม่มีความผิดพลาดจากการเตรียมตัวอย่างที่สมบูรณ์ ช่วยเพิ่มค่าความถูกต้องและความเสถียรของผลการวิเคราะห์
จากการศึกษาด้านวิศวกรรมเครื่องกลและโยธา 6-15% ของต้นทุนการก่อสร้างสูญเสียไปเนื่องจากการทำงานซ้ำเมื่อมีส่วนประกอบชำรุด โดย 12% ของข้อบกพร่องดังกล่าวเกิดจากวัสดุและความล้มเหลวของระบบ (Waje & Patil, 2017) ลองคิดดูว่าคุณจะสามารถประหยัดต้นทุนได้จำนวนมากเท่าไหร่ หากบริษัทผู้ผลิตให้ความสำคัญกับการควบคุมคุณภาพของสินค้า
ลองนึกดูว่า คุณจะสามารถประหยัดเวลาได้มากแค่ไหน หากคุณสามารถทำการทดสอบตัวอย่างได้ทันทีโดยไม่ต้องเสียเวลาไปกับการส่งตัวอย่างไปยังห้องทดลอง เราขอนำเสนอวิธีง่ายๆในการจัดตั้งห้องทดลองเคลื่อนที่ที่คุณสามารถทำการทดสอบได้ทันที เพียงแค่มีเครื่อง Epsilon 1 เครื่อง XRF ขนาดกะทัดรัด โดดเด่น ทั้งในด้านความแม่นยำ
