Dòng thiết bị NanoSight từ Malvern cung cấp nền tảng dễ dàng sử dụng, độ lặp lại cao cho phép phân tích đặc trưng hạt nano. Thiết bị sử dụng công nghệ phân tích theo dõi hạt (NTA) để phân tích các hạt nano kích thước từ 10 nm - 2000 nm trong dung dịch.
Việc phân tích các hạt riêng lẻ được thực hiện đồng thời bằng công nghệ quan sát trực tiếp và đo khuếch tán. Phương pháp này mang đến kết quả độ phân giải cao cho độ phân bộ kích thước hạt và nồng độ, cùng với việc kiểm chứng trực quan hình thái hạt để mang đến cho người dùng thêm thông tin và độ tin cậy vào kết quả. Cả kích thước hạt và nồng độ sẽ được đo, trong khi chế độ huỳnh quang có thể phân biệt các hạt được đánh dấu hoặc phát huỳnh quang tự nhiên.
DKSH là đại diện độc quyền của Malvern tại Cambodia, Indonesia, Laos, Malaysia, Myanmar, Philippines, Singapore, Taiwan, Thailand và Vietnam.
Thông số kỹ thuật
|
|
---|---|
Khoảng kích thước hạt
|
10 nm đến 2000 nm
|
Nồng độ hạt
|
10⁶ đến 10⁹ hạt/mL
|
Bước sóng
|
405 nm (tím), 488 nm (xanh), 532 nm (xanh lá) hoặc 642 nm (đỏ)
|
Khoảng nhiệt độ kiểm soát
|
5°C dưới nhiệt độ môi trường đến 55°C
|
Kích thước (W × D × H)
|
420 mm × 200 mm × 260 mm
|
Nguồn
|
110 V - 220 V
|
Bàn đo
|
Di chuyển bằng tay
|
Cơ chế chỉnh tiêu điểm (focus)
|
Lấy tiêu điểm bằng tay
|
Camera
|
CCD hoặc sCMOS
|
Huỳnh quang
|
2 tấm lọc, điều chỉnh bằng tay
|
Dòng NanoSight LM10 cho phép phân tích nhanh, chính xác sự phân bố hạt và nồng độ - ứng dụng được với tất cả các loại hạt nano đường kính từ 10 nm đến 2000 nm, phụ thuộc vào cấu hình thiết bị và loại mẫu.
Thông số kỹ thuật
|
|
---|---|
Khoảng kích thước hạt
|
10 nm đến 2000 nm
|
Nồng độ hạt
|
10⁶ đến 10⁹ hạt/mL
|
Bước sóng
|
405 nm (tím), 488 nm (xanh), 532 nm (xanh lá) hoặc 642 nm (đỏ)
|
Khoảng nhiệt độ kiểm soát
|
5°C dưới nhiệt độ môi trường đến 55°C
|
Kích thước (W × D × H)
|
400 mm × 250 mm × 400 mm
|
Nguồn
|
110 V - 220 V
|
Bàn đo
|
Bàn đo cố định
|
Cơ chế chỉnh tiêu điểm (focus)
|
Điều khiển bằng máy tính
|
Camera
|
sCMOS
|
Huỳnh quang
|
Nhiều tùy chọn tấm lọc với 6 vị trí di động
|
Dòng Malvern NS300 mang đến khả năng phân tích nhanh, tự động các thông số phân bố kích thước hạt và nồng độ cho tất cả các loại hạt nano. Nhiệt độ mẫu có thể được lập trình hoàn toàn thông qua phần mềm đi kèm NTA. Với khả năng thay đổi các nguồn laser khác nhau, cùng bộ kính lọc di động 6 vị trí, thiết bị được tối ưu cho các ứng dụng huỳnh quang để phân tích các mẫu đánh dấu huỳnh quang khác nhau.
Thông số kỹ thuật
|
|
---|---|
Khoảng kích thước hạt
|
10 nm đến 2000 nm
|
Nồng độ hạt
|
10⁶ đến 10⁹ hạt/mL
|
Bước sóng
|
405 nm (tím), 488 nm (xanh), 532 nm (xanh lá) hoặc 642 nm (đỏ)
|
Khoảng nhiệt độ kiểm soát
|
5°C dưới nhiệt độ môi trường đến 55°C
|
Kích thước (W × D × H)
|
530 mm × 250 mm × 400 mm
|
Nguồn
|
110 V - 220 V
|
Khoảng độ dẫn điện mẫu
|
0.005 mScm⁻¹ - 5mScm⁻¹
|
Bàn đo
|
Bàn đo di động, điều khiển bằng máy tính
|
Cơ chế chỉnh tiêu điểm (focus)
|
Điều khiển bằng máy tính
|
Camera
|
CCD hoặc sCMOS
|
Huỳnh quang
|
2 tấm lọc, điều chỉnh bằng tay
|
Dòng Malvern NS500 cung cấp phép phân tích trực quan và chi tiết cho các thông số độ phân bố kích thước và nồng độ hạt, cho tất cả các loại hạt nano. Phép đo zeta đơn hạt trên NS500 cung cấp độ phân giải phân bố thế zeta rất cao, cùng với đó là khả năng phân tích đồng thời các thông số NTA khác như kích thước hạt, nồng độ hạt và thậm chí có thể vận hành trong chế độ huỳnh quang.
Mẫu được đưa vào buồng quan sát bằng hệ chất lỏng tích hợp. Bộ điều khiển bơm trên máy tính cho phép xử lý mẫu tự động, bao gồm đưa mẫu vào, rửa mẫu và pha loãng. Bàn đo quang di động điều khiển thông qua phần mêm cho phép xác định vị trí và lấy tiêu điểm và rửa mẫu nhanh, giúp tăng độ lặp lại phép đo. Nhiệt độ mẫu được lập trình hoàn toàn thông qua phần mềm NTA.
Dòng thiết bị NanoSight NS300 cung cấp nền tảng dễ sử dụng với độ lặp lại cao cho phép phân tích đặc trưng hạt nano với công nghệ theo dõi chuyển động hạt (NTA).
Thiết bị NS300 được tối ưu cho các ứng dụng huỳnh quang, cho phép đo nhanh, tự động độ phân bố kích thước hạt và nồng độ của tất cả các loại hạt nano từ 10 nm đến 2000 nm đường kính (phụ thuộc vào cấu hình thiết bị và loại mẫu đo).
Nhờ vào hệ thống tấm lọc 6 vị trí di động, điều khiển bằng máy tính, thiết bị có thể phân tích các sản phẩm được đánh dấu huỳnh quang bằng nhiều chất khác nhau. Bàn đo quang di động, điều khiển bằng phần mềm giúp cho việc xác định vị trí và lấy tiêu điểm, rửa mẫu được thực hiện dễ dàng và tự động, góp phần tăng độ lặp lại phép đo. Nhiệt độ mẫu có thể được lập trình hoàn toàn thông qua phần mềm NTA