Malvern – Thiết bị phân tích hạt – Dòng Spraytec

Nguyên tắc	Tán xạ ánh sáng laser
Phân tích	Tán xạ Mie và Fraunhofer bao gồm phân tích đa tán xạ được cấp paten
Tốc độ thu thập dữ liệu	10 kHz (chế độ nhanh) 1 Hz (chế độ liên tục)
Thời gian đo tối đa	30 giây (Chế độ nhanh) 60 giây (Chế độ liên tục)
Quang học- Nguồn sáng	Tối đa 4 mW He-Ne Laser, 632,8 nm
Quang học - Sắp xếp thấu kính	Fourier (chùm tia song song)
Quang học-Chiều dài thấu kính tiêu cự	300 mm và 750 mm
Quang học - Phạm vi đo	150 mm tại 0,5 μm, kéo dài đến trên 1 m trên 5 μm
Đầu dò - Sắp xếp	36 nguyên tố log-spaced array
Đầu dò - Phạm vi góc dò	0.015 - 17 độ
Đầu dò - Alignment	Tự động
Tính hiệu quả-Kích thước hạt	Ống kính 300 mm: 0.1 - 900 μm (Dv50: 0.5 - 600 μm) Ống kính 750 mm: 2-2000 μm (Dv50: 5 - 1600 μm)
Tính hiệu quả - độ chính xác	Tốt hơn 1%
Tính hiệu quả - Độ lặp lại	Tốt hơn 1%
Tính hiệu quả - Độ tái lập	Tốt hơn 1%
Môi trường hoạt động- Công suất	100/240 V, 50/60 Hz
Môi trường hoạt động - Nhiệt độ bảo quản	-20 ° C đến 50 ° C
Môi trường hoạt động - Nhiệt độ hoạt động	15 ° C đến 40 ° C

Phân tích kích thước hạt & giọt phun bằng công nghệ nhiễu xạ laser – Dòng thiết bị Spraytec

Thiết bị Spraytec của Malvern Instruments là một hệ thống kích thước hạt nhiễu xạ laser được thiết kế để đáp ứng các yêu cầu độc đáo của mô tả dạng giọt và bình xịt. Tính linh hoạt của hệ thống Spraytec làm cho nó phù hợp với các ứng dụng trong nhiều ngành công nghiệp khác nhau, từ nghiên cứu cơ bản và phát triển thông qua việc kiểm soát chất lượng sản phẩm và kiểm tra phát hành hàng loạt. Nó cung cấp phân tích kích thước phun chính xác và có thể tái sản xuất theo một định dạng dễ hiểu, nâng cao sự hiểu biết và kiểm soát sản phẩm.