Các lớp kim loại thuần hoặc hợp kim được sử dụng để tăng cường tính năng của sản phẩm, điều quan trọng là phải xác định chính xác độ dày lớp phủ. Kiểm soát chất lượng của lớp phủ kim loại yêu cầu phân tích nguyên tố mà không phá hoại cũng như mô tả chi tiết các tính chất vật lý. Quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) và quang phổ nhiễu xạ tia X (XRD) là các kỹ thuật lý tưởng, phân tích không tiếp xúc và không phá hủy, không cần chuẩn bị mẫu hoặc chuẩn bị mẫu rất đơn giản.
Các ứng dụng điển hình bao gồm:
